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簡要描述:半導體可靠性測試高低溫試驗箱,簡稱高低溫試驗箱,用于商品集成電路、微處理器、二極管、溫度傳感器、芯片等半導體產品可靠性環境測試,用于測試和確定產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。
詳細介紹
品牌 | 高天/Gaotian | 產地 | 國產 |
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加工定制 | 是 |
一、半導體可靠性測試高低溫試驗箱作用
適用半導體產品零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環變化的情況下,檢驗其可靠性各項性能指標的檢測設備。高溫時可測試產品零件、材料可能發生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象(如:填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩定性下降,絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等);在低溫時可測試產品零件、材料可能發生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現象(如:材料發硬變脆、電子元器件性能發生變化、水冷凝結冰、材料收縮造成機械結構變化等)。
二、半導體可靠性測試高低溫試驗箱主要參數
溫度顯示精度:0.1℃
溫度范圍:室溫0℃~150℃/-20℃~150℃/-40℃~150℃/-70℃~150℃/
升溫速度:平均3.0℃/分
降溫速率:平均1℃/分
濕度范圍:30~98% R.H
溫度解析度:±0.1℃
三、關于高天
湖北高天試驗設備有限公司是一家集試驗室設備、儀器和耐氣候環境試驗設備的研發、生產和安裝于一體的生產與銷售公司。我們在不斷開拓新的技術點,解決客戶工藝生產難題,設計提供適合且有效的產品,積極推廣新進的高科技產品,逐步取代落后的老設備,提高用戶生產效率,為客戶創造產能價值。高天歡迎各位蒞臨參觀交流!
四、產品細節
高低溫試驗箱的每個細節都經過精心雕琢,彰顯出優質的品質。
五、高低溫試驗箱結構設計
1. 內外箱材質測試區內箱鏡面不銹鋼板 ( SUS # 304 ),外箱SUS#304不銹鋼板。
2. 外 箱 燈 源 高亮度照明燈 ( 歐司朗 或 飛利浦 13 W PL燈 )
3. 同溫層結構設計:有效避免箱體頂部凝結。
4. 觀 測 視 窗:觀察試品使用 ( W*L 28 * 35 cm )
5. 窗口防汗設計:采電熱器裝置,防止水氣凝結 ( 40 W )
6. 測 試 孔:可外接測試電源線及信號用 ( 5.0 cm )
7. 機 臺 滑 輪 采滑輪移動調整擺放位置與強力螺栓固定位置(200Kg / 輪 )
8. 保 溫 層:保溫絕緣層耐燃防火 PU + 隔熱bo璃棉(保溫層厚 10.0 cm)
9. 箱 內 盤 架:可活動調整柵盤架與不銹鋼條狀柵盤二只(盤架每間格 5.0 cm)
10. 箱 門:采雙道隔熱氣密迫緊,有效隔絕外部溫度泄漏
六、高低溫試驗箱安全注意事項
1、為保證設備及試驗的安全,請安裝外部保護接地,并按設備銘牌要求供給電源;
2、設備嚴禁用于易燃易爆、有毒、強腐蝕物品的試驗;
3、非專業人員不得拆卸、維修;
4、設備應有可靠接地;
5、試驗中除非必要請勿打開箱門或進入箱內,否則可能引起人身傷害以及設備誤動作;
6、設備箱門門鎖僅能從外部打開,進入箱內必須有人監護;
7、如果箱內放入發熱試樣,試樣請使用外加電源,不要直接使用設備本身電源;
8、設備設有多種保護措施,請定期檢查;
9、箱體內溫度≥55℃時,請勿打開制冷壓縮機,以保證壓縮機長壽命正常的運行;
10、有制冷功能的產品搬運時傾角不得大于45℃,放置到位后,應靜放1~2天再開機,有利于制冷系統能正常工作并延長壽命;
11、切勿重力開啟/閉合產品箱門,否則易導致箱門脫落,造成產品損壞,產生傷害事故;
12、產品長時間停止使用時,應定期做驅除潮氣處理,避免損壞有關器件;
13、產品在搬運時,應小心注意避免損壞面板上的儀表等易損零部件;
14、詳細閱讀本設備所附文件后,方可操作本設備;
15、本試驗箱無防爆裝置,不得放入易燃易爆物品干燥
16、在操作當中,除非有必要,請不要打開箱門,否則可能引起人身傷害以及設備誤動作。 高低溫汽沖出箱外十分危險 箱門內側仍然保持高溫造成燙
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